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　　氦質(zhì)譜檢漏儀是根據(jù)質(zhì)譜學(xué)原理，用氦氣作探索氣體制成的氣密性檢測(cè)儀器.其質(zhì)譜原理如圖所示。

　　氦質(zhì)譜檢漏儀的質(zhì)譜學(xué)原理

　　燈絲發(fā)射出來(lái)的電子在電離室內(nèi)來(lái)回的振蕩，與電離室內(nèi)氣體和經(jīng)被檢件漏孔進(jìn)入電離室的氦氣相互碰撞使其電離成正離子，這些離子在加速電場(chǎng)作用下進(jìn)入磁場(chǎng)，由于洛倫茲力作用產(chǎn)生偏轉(zhuǎn)，形成圓弧形軌道，軌道半徑

　　式中R ——離于偏轉(zhuǎn)軌道半徑(cm)

　　B ——磁場(chǎng)強(qiáng)度(T)

　　——離子的質(zhì)(量)/(電)荷比(正整數(shù))

　　U ——離子加速電壓(V)

　　由上式可知，當(dāng)R、B為定值時(shí)，改變加速電壓可使不同質(zhì)量的離子通過磁場(chǎng)和接收縫到達(dá)接收極而被檢測(cè)。

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